Akty ujednolicone - rok 2010 nr 163 poz. 15

Opis

a) lampy z jodową katodą wnękową z oknami z czystego krzemu lub kwarcu;

b) lampy z uranową katodą wnękową.

Izolatory Faradaya dla długości fali w zakresie od 500 nm do 650 nm.

Siatki optyczne dla długości fali w zakresie od 500 nm do 650 nm.

Włókna światłowodowe dla długości fali od 500 do 650 nm pokryte warstwami przeciwodblaskowymi dla długości fali
od 500 do 650 nm i średnicy rdzenia większej niż 0,4 mm, lecz nieprzekraczającej 2 mm.

a) Uszczelnienia;

b) Elementy wewnętrzne;

c) Urządzenia uszczelniające, kontrolne i pomiarowe.

Jądrowe systemy detekcji niewyszczególnione w pozycjach 0A001.j. lub 1A004.c., służące do wykrywania, identyfikacji lub kwantyfikacji materiałów promieniotwórczych lub promieniowania i pochodzeniu jądrowym oraz specjalnie do nich zaprojektowane elementy.
UWAGA: Wyposażenie osobiste ujęto w pozycji I.A1.004.

Niewyszczególnione w pozycji 0B001.c.6., 2A226 lub 2B350 zawory wyposażone w uszczelnienia mieszkowe wykonane ze stopu aluminium lub stali nierdzewnej typu 304, 304L lub 316L.

Zwierciadła laserowe niewyszczególnione w pozycji 6A005.e., składające się z warstw podłoża i współczynniku rozszerzalności termicznej nie wyższym niż 10^–6 K^–1 w temperaturze 20 °C (np. ze stopionej krzemionki lub szafiru).
Uwaga:
Pozycja ta nie obejmuje systemów optycznych zaprojektowanych specjalnie do zastosowań astronomicznych, chyba że zwierciadła zawierają stopioną krzemionkę.

Soczewki laserowe niewyszczególnione w pozycji 6A005.e.2, składające się z warstw podłoża i współczynniku rozszerzalności termicznej nie wyższym niż 10^–6 K^–1 w temperaturze 20 °C (np. ze stopionej krzemionki).

Rury, rurociągi, kołnierze, armatura z niklu, stopów niklu lub powlekane nilem lub stopami niklu zawierającymi ponad 40 % wagowych niklu, niewyszczególnione w pozycji 2B350.h.1.

a) pompy turbomolekularne i wydajności równej lub przekraczającej 400 l/s;

b) pompy Rootsa do wytwarzania próżni wstępnej, i wydajności ssania przekraczającej 200 m³/h;

c) suche sprężarki śrubowe i uszczelnieniu mieszkowym oraz suche śrubowe pompy próżniowe i uszczelnieniu mieszkowym.

Szafki ekranowane do pracy z substancjami radioaktywnymi, składowania takich substancji i operowania nimi (komory gorące).

»Uran naturalny« lub »uran zubożony« lub tor w postaci metalu, stopu, związku chemicznego lub koncentratu i dowolny inny materiał zawierający jeden lub większą ilość powyższych materiałów, niewyszczególnione w pozycji 0C001.

Komory detonacyjne i zdolności do absorpcji eksplozji przekraczającej 2,5 kg ekwiwalentu TNT.

Opis

Rozpuszczalnik na bazie wodorofosforanu bis(2-etylo-heksylu) (HDEHP lub D2HPA) [numer w bazie Chemical Abstracts (CAS): 298-07-7] w dowolnej ilości, i czystości przekraczającej 90 %.

Fluor gazowy [numer CAS: 7782-41-4] i czystości przekraczającej 95 %.

a) kopolimery fluorku winylidenu posiadające w co najmniej 75 % strukturę beta krystaliczną bez rozciągania;

b) poliimidy fluorowane zawierające co najmniej 10 % wagowych związanego fluoru;

c) fluorowane elastomery fosfazenowe zawierające co najmniej 30 % wagowych związanego fluoru;

d) polichlorotrifluoroetylen (PCTFE, np. Kel-F ®);

e) fluoroelastomery (np. Viton ®, Tecnoflon ®);

f) politetrafluoroetylen (PTFE).

Wyposażenie osobiste do wykrywania promieniowania i pochodzeniu jądrowym, niewyszczególnione w pozycji 1A004.c., w tym dozymetry osobiste.

Ogniwa elektrolityczne do produkcji fluoru, niewyszczególnione w pozycji 1B225, i wydajności większej niż 100 g fluoru na godzinę.

Katalizatory, inne niż wyszczególnione w pozycji 1A225 lub 1B231, zawierające platynę, pallad lub rod, wykorzystywane do wspomagania reakcji wymiany izotopów wodoru między wodorem a wodą w celu separacji trytu z ciężkiej wody lub w celu produkcji ciężkiej wody.

a) »zdolne do« uzyskania wytrzymałości na rozciąganie 460 MPa lub powyżej, w temperaturze 293 K (20 °C); lub

b) posiadające wytrzymałość na rozciąganie równą co najmniej 415 MPa w temperaturze 298 °K(25 °C).

Uwaga techniczna:

Sformułowanie stopy »zdolne do« dotyczy stopów przed lub po obróbce termicznej.

Metale magnetyczne, bez względu na typ i
postać, niewyszczególnione w pozycji 1C003.a.,
i »początkowej względnej przenikalności magnetycznej«
120 000 lub wyższej i grubości od 0,05 mm do
0,1 mm.
Uwaga techniczna:
»Początkową względną przenikalność magnetyczną« należy mierzyć na materiałach całkowicie wyżarzonych.

a) szklane »materiały włókniste lub włókienkowe« posiadające przynajmniej jedną z niżej wymienionych właściwości:

1. »moduł właściwy« przekraczający 10 × 10⁶ m; lub

2. »wytrzymałość właściwą na rozciąganie« przekraczającą 17 × 10⁴ m;

b) szklane »materiały włókniste lub włókienkowe« posiadające przynajmniej jedną z niżej wymienionych właściwości:

1. »moduł właściwy« przekraczający 3,18 × 10⁶ m; lub

2. »wytrzymałość właściwą na rozciąganie« przekraczającą 76,2 × 10³ m;

c) termoutwardzalne, impregnowane żywicą, ciągłe »przędze«, »niedoprzędy«, »kable« lub »taśmy« i szerokości nieprzekraczającej 15 mm (prepregi), wykonane ze szklanych »materiałów włóknistych lub włókienkowych« niewyszczególnionych w pozycji I.A1.010.a.;

d) węglowe »materiały włókniste lub włókienkowe«;

e) termoutwardzalne, impregnowane żywicą, ciągłe »przędze«, »rowingi«, »kable« lub »taśmy« wykonane z węglowych lub szklanych »materiałów włóknistych lub włókienkowych«;

f) poliakrylonitrylowe ciągłe »przędze«, »rowingi«, »kable« lub »taśmy«;

g) »materiały włókniste lub włókienkowe« paraaramidowe (Kevlar® i materiały do niego podobne).

a) wykonane z »materiałów włóknistych lub włókienkowych« określonych w pozycji IA.A1.009;

b) węglowe »materiały włókniste lub włókienkowe« impregnowane »matrycą« z żywicy epoksydowej (prepregi) określone w pozycjach 1C010.a., 1C010.b. lub 1C010.c., przeznaczone do naprawy konstrukcji lotniczych lub laminatów, pod warunkiem że wymiary pojedynczych arkuszy materiału nie przekraczają wielkości 50 cm × 90 cm;

c) prepregi określone w pozycjach 1C010.a., 1C010.b lub 1C010.c., impregnowane żywicami fenolowymi lub epoksydowymi mającymi temperaturę zeszklenia (Tg) poniżej 433 K (160 °C) i temperaturę sieciowania niższą niż temperatura zeszklenia.

Kompozyty ceramiczne wzmacniane włóknami krzemo-węglowymi używane do wyrobu głowic, członów przenoszących głowice, klap dysz, stosowanych w »pociskach rakietowych«, niewyszczególnione w pozycji 1C107.

nieużywana

a) w postaci form wydrążonych i symetrii cylindrycznej lub sferycznej (w tym segmenty cylindryczne) i średnicy wewnętrznej od 50 do 300 mm; oraz

b) masa powyżej 5 kg.

»Sproszkowane pierwiastki« kobaltu, neodymu lub
samaru bądź ich stopy lub mieszanki zawierające co
najmniej 20 % wagowych kobaltu, neodymu lub
samaru, i rozmiarach cząsteczek mniejszych niż
200 μm.
Uwaga techniczna:
»Sproszkowany pierwiastek« oznacza pierwiastek
w sproszkowanej postaci i wysokiej czystości.

Czysty fosforan tributylu (TBP) [CAS: 126-73-8] lub jakakolwiek mieszanka i zawartości TBP przekraczającej 5 % wagowych.

Stal maraging, inna niż określona w pozycjach 1C116 lub 1C216.

Uwagi techniczne:

1. Sformułowanie stal maraging »zdolna« do uzyskania, obejmuje stal maraging przed lub po obróbce termicznej.

2. Stale maraging to stopy żelaza stale
charakteryzujące się wysoką zawartością niklu, bardzo niską zawartością węgla, a także wykorzystaniem składników zastępczych lub osadów umożliwiających wzmocnienie i utwardzenie wydzieleniowe stopu.

a) wolfram i stopy wolframu, niewyszczególnione w pozycji 1C117, w postaci jednorodnych kulistych lub rozpylonych cząstek i średnicy 500 μm lub mniejszej i zawartości wolframu równej lub większej niż 97 % wagowych;

b) molibden i stopy molibdenu, niewyszczególnione w pozycji 1C117, w postaci jednorodnych kulistych lub rozpylonych cząstek i średnicy 500 μm lub mniejszej i zawartości molibdenu równej lub większej niż 97 % wagowych;

c) materiały wolframowe w postaci stałej, niewyszczególnione w pozycji 1C226 i następującym składzie materiałowym:

1. wolfram i stopy wolframu zawierające co najmniej 97 % wagowych wolframu;

2. wolfram nasycony miedzią, zawierający co najmniej 80 % wagowych wolframu; lub

3. wolfram nasycony srebrem, zawierający co najmniej 80 % wagowych wolframu.

a) zawartość żelaza od 30 % do 60 %; oraz

b) zawartość kobaltu od 40 % do 60 %.

nieużywana

Grafit, niewyszczególniony w pozycji 0C004 ani 1C107.a., przeznaczony do wykorzystania w maszynach do obróbki elektroerozyjnej (EDM) lub spełniający takie specyfikacje.

Opis

a) układy do badań wibracyjnych wykorzystujące techniki sprzężenia zwrotnego lub pętli zamkniętej, zawierające sterowniki cyfrowe, przystosowane do przyspieszenia i wartości skutecznej 0,1 g w przedziale między 0,1 a 2 kHz i przekazujące siły równe 50 kN lub większe mierzone na »stole bez utwierdzenia«;

b) sterowniki cyfrowe współpracujące ze specjalnie zaprojektowanym »oprogramowaniem« do badań wibracyjnych, cechujące się »pasmem sterowania w czasie rzeczywistym« powyżej 5 kHz, zaprojektowane do użytku w układach do badań wibracyjnych wyszczególnionych w literze a);

Uwaga techniczna:
»Pasmo sterowania w czasie rzeczywistym« oznacza maksymalną szybkość, z jaką układ sterujący może wykonać całkowite cykle próbkowania, przetwarzania danych i przesyłania sygnałów sterowniczych.

c) mechanizmy do wymuszania wibracji (wstrząsarki) wyposażone, albo nie, w odpowiednie wzmacniacze, zdolne do przekazywania siły 50 kN lub większych, mierzonych na »stole bez utwierdzenia«, używane w systemach do badań wibracyjnych wyszczególnionych w literze a);

d) konstrukcje podtrzymujące próbki do badań oraz urządzenia elektroniczne, zaprojektowane do łączenia wielu wstrząsarek w system umożliwiający uzyskanie łącznej siły skutecznej 50 kN, lub większej, mierzonych na »stole bez utwierdzenia«, i nadające się do użytku w systemach do badań wibracyjnych wyszczególnionych w literze a).

Uwaga techniczna:
»stół bez utwierdzenia« oznacza płaski stół lub powierzchnię bez uchwytów i mocowania.

Obrabiarki, niewyszczególnione w pozycji 2B001.c. ani 2B201.b., i dokładności pozycjonowania z uwzględnieniem »wszystkich możliwych kompensacji« równej lub mniejszej (lepszej) niż 15 μm, zgodnie z ISO 230/2 (1988) (¹) lub równoważną normą krajową, mierzonej wzdłuż dowolnej osi liniowej.

Części i cyfrowe układy sterujące specjalnie zaprojektowane do obrabiarek, i których mowa w pozycjach 2B001, 2B201 lub I.A2.002 niniejszego wykazu.

a) wyważarki zaprojektowane lub zmodyfikowane dla urządzeń dentystycznych i innego sprzętu medycznego, posiadające wszystkie następujące właściwości:

1. nienadające się do wyważania wirników/zespołów i masie większej niż 3 kg;

2. nadające się do wyważania wirników/zespołów przy prędkościach obrotowych większych niż 12 500 obr./min;

3. nadające się do korekcji niewyważenia w co najmniej dwu płaszczyznach; oraz

4. nadające się do wyważenia resztkowego niewyważenia właściwego wynoszącego 0,2 gmm/kg masy wirnika;

b) »głowice wskaźników« zaprojektowane lub zmodyfikowane do wykorzystania w maszynach wyszczególnionych w lit. a).

Uwaga techniczna:
»Głowice wskaźników« określane są czasami jako oprzyrządowanie wyważające.

a) zdolność wykonywania operacji przez ścianę komory gorącej i grubości 0,3 m lub więcej (dla operacji wykonywanych przez ścianę); lub

b) zdolność wykonywania operacji ponad górną krawędzią ściany komory gorącej i grubości 0,3 m lub większej (dla operacji wykonywanych ponad ścianą).

Uwaga techniczna:
Zdalnie sterowane manipulatory przenoszą działanie człowieka – operatora, na ramię robocze i końcowy chwytak. Mogą występować manipulatory typu »master/slave« lub sterowane drążkiem lub przyciskami.

Piece do obróbki cieplnej z regulowaną atmosferą lub piece do utleniania zdolne do pracy w temperaturach powyżej 400 °C.
Uwaga:
Pozycja nie obejmuje pieców tunelowych z przenośnikiem wałkowym lub wózkowym, pieców tunelowych z przenośnikiem taśmowym, pieców przepychowych

ani pieców z przenośnikiem zwrotnym, specjalnie zaprojektowanych do produkcji szkła, ceramiki stołowej lub konstrukcyjnej.

nieużywana

a) czujniki ciśnień wykonane z »materiałów odpornych na korozyjne działanie fluorku uranu (UF₆)« lub chronione takimi materiałami; oraz

b) posiadające którąś z niżej wymienionych cech:

1. pełny zakres pomiarowy poniżej 200 kPa i »dokładność« lepszą niż ± 1 % w całym zakresie; lub

2. pełny zakres pomiarowy wynoszący co najmniej 200 kPa i »dokładność« lepszą niż 2 kPa.

Uwaga techniczna:
Dla potrzeb pozycji 2B230 pojęcie »dokładność« obejmuje nieliniowość, histerezę i powtarzalność w temperaturze otoczenia.

a) stopów i zawartości wagowej powyżej 25 % niklu i 20 % chromu;

b) polimerów fluorowych;

c) szkła (w tym materiałów powlekanych szkliwami lub emaliowanych lub wykładanych szkłem);

d) grafitu lub »grafitu węglowego«;

e) niklu lub stopów i zawartości wagowej niklu powyżej 40 %;

f) tantalu lub stopów tantalu;

g) tytanu lub stopów tytanu;

h) cyrkonu lub stopów cyrkonu; lub

i) stali nierdzewnej.

Uwaga techniczna:
»Grafit węglowy« jest związkiem węgla amorficznego i grafitu, w którym
zawartość wagowa grafitu stanowi 8 % lub więcej.

wymienniki ciepła lub skraplacze i polu powierzchni wymiany ciepła powyżej 0,05 m², ale poniżej 30 m²; oraz rury, płytki, wężownice lub bloki (rdzenie) zaprojektowane do takich wymienników ciepła lub kondensatorów, gdy wszystkie powierzchnie, które wchodzą w bezpośredni kontakt z płynami są zrobione z jednego z następujących materiałów:

a) stopów i zawartości wagowej powyżej 25 % niklu i 20 % chromu;

b) polimerów fluorowych;

c) szkła (w tym materiałów powlekanych szkliwami lub emaliowanych lub wykładanych szkłem);

d) grafitu lub »grafitu węglowego«;

e) niklu lub stopów i zawartości wagowej niklu powyżej 40 %;

f) tantalu lub stopów tantalu;

g) tytanu lub stopów tytanu;

h) cyrkonu lub stopów cyrkonu;

i) węglika krzemu;

j) węglika tytanu; lub

k) stali nierdzewnej.

Uwaga:
Pozycja nie obejmuje chłodnic samochodowych.
Uwaga techniczna:
Materiały wykorzystane do produkcji uszczelek i uszczelnień oraz innych
rozwiązań uszczelniających nie mają wpływu na status wymiennika ciepła
pod względem kontroli.

a) stopów i zawartości wagowej powyżej 25 % niklu i 20 % chromu;

b) materiałów ceramicznych;

c) żelazokrzemu;

d) polimerów fluorowych;

e) szkła (w tym materiałów powlekanych szkliwami lub emaliowanych lub wykładanych szkłem);

f) grafitu lub »grafitu węglowego«;

g) niklu lub stopów i zawartości wagowej niklu powyżej 40 %;

h) tantalu lub stopów tantalu;

i) tytanu lub stopów tytanu;

j) cyrkonu lub stopów cyrkonu;

k) niobu lub stopów niobu;

l) stali nierdzewnej;

m) stopów aluminium; lub

n) kauczuku.

Uwagi techniczne:
Materiały wykorzystane do produkcji uszczelek i uszczelnień oraz innych
rozwiązań uszczelniających nie mają wpływu na status pompy pod
względem kontroli.
Pojęcie »kauczuk« obejmuje wszelkie rodzaje kauczuku naturalnego i syntetycznego.

a) stopów i zawartości wagowej powyżej 25 % niklu i 20 % chromu;

b) polimerów fluorowych;

c) szkła (w tym materiałów powlekanych szkliwami lub emaliowanych lub wykładanych szkłem);

d) niklu lub stopów i zawartości wagowej niklu powyżej 40 %;

e) tantalu lub stopów tantalu;

f) tytanu lub stopów tytanu; lub

g) cyrkonu lub stopów cyrkonu.

Uwaga techniczna:
Do »separatorów odśrodkowych« zalicza się również dekantery.

Spiekane filtry metalowe, niewyszczególnione w pozycji 2B352.d., wykonane z niklu lub stopu niklu i zawartości wagowej niklu 40 % lub więcej.

Maszyny do wyoblania kształtowego oraz maszyny do tłoczenia kształtowego, niewyszczególnione w 2B009, 2B109 lub 2B209, oraz specjalnie zaprojektowane do nich elementy składowe.
Uwaga techniczna:
Do celów tej pozycji maszyny łączące funkcje wyoblania i tłoczenia kształtowego są traktowane jako urządzenia do tłoczenia kształtowego.

a) kadzie fermentacyjne, pozwalające na rozmnażanie »mikroorganizmów« chorobotwórczych lub wirusów lub umożliwiające produkcję toksyn bez rozprzestrzeniania aerozoli, posiadające pojemność całkowitą równą 10 litrów lub większą;

b) mieszadła do kadzi fermentacyjnych, i których mowa w lit. a);

Uwaga techniczna:
Do kadzi fermentacyjnych zalicza się bioreaktory, chemostaty oraz instalacje i przepływie ciągłym.

c) sprzęt laboratoryjny, taki jak:

1. sprzęt do przeprowadzania reakcji łańcuchowej polimerazy (PCR);

2. sprzęt do sekwencjonowania genomu;

3. syntezatory DNA;

4. urządzenia do elektroporacji;

5. specjalne odczynniki wykorzystywane w urządzeniach opisanych powyżej w pozycji I.A2.014.c. pkt 1-4 powyżej;

d) filtry, mikrofiltry, nanofiltry lub ultrafiltry które mogą być wykorzystane w biologii przemysłowej lub laboratoryjnej w celu filtrowania ciągłego, z wyłączeniem filtrów zaprojektowanych lub zmodyfikowanych specjalnie do celów medycznych lub produkcji wody czystej stosowanych w projektach oficjalnie wspieranych w ramach UE lub ONZ;

e) ultrawirówki, wirniki i adaptery do ultrawirówek;

f) urządzenia do liofilizacji.

a) sprzęt produkcyjny do chemicznego osadzania z fazy gazowej (CVD);

b) sprzęt produkcyjny do fizycznego osadzania z fazy gazowej (PVD);

c) sprzęt produkcyjny do osadzania za pomocą nagrzewania uzyskiwanego poprzez indukcję lub opór elektryczny.

a) stopów i zawartości wagowej powyżej 25 % niklu i 20 % chromu;

b) polimerów fluorowych;

c) szkła (w tym materiałów powlekanych szkliwami lub emaliowanych lub wykładanych szkłem);

d) niklu lub stopów i zawartości wagowej niklu powyżej 40 %;

e) tantalu lub stopów tantalu;

f) tytanu lub stopów tytanu;

g) cyrkonu lub stopów cyrkonu;

h) niobu lub stopów niobu;

i) stali nierdzewnej;

j) drewna; lub

k) kauczuku.

Uwaga techniczna:
Pojęcie »kauczuk« obejmuje wszelkie rodzaje kauczuku naturalnego
i syntetycznego.

(¹)   Producenci wyliczający dokładność pozycjonowania zgodnie z ISO 230/2 (1997) powinni zasięgać opinii właściwych organów państwa członkowskiego, w którym mają swoją siedzibę.

a) zdolność do ciągłego wytwarzania, w czasie ośmiu godzin, napięcia i wartości 10 kV lub większego i mocy wyjściowej 5kW lub większej z wychyleniami oscylującymi lub bez; oraz

b) stabilność prądu lub napięcia, w czasie 4 godzin, lepszą niż 0,1 %.

a) plazmowe spektrometry masowe ze sprzężeniem indukcyjnym (ICP/MS);

b) jarzeniowe spektrometry masowe (GDMS);

c) termojonizacyjne spektrometry masowe (TIMS);

d) spektrometry masowe z zespołami do bombardowania elektronami, mające komorę ze źródłem elektronów wykonaną z »materiałów odpornych na korozję wywołaną sześciofluorkiem uranu UF₆«, wykładaną lub powlekaną takimi materiałami;

e) następujące spektrometry masowe z wiązką molekularną:

1. Posiadające komorę ze źródłem molekuł wykonaną ze stali nierdzewnej lub molibdenu albo wykładaną, lub powlekaną takimi materiałami, wyposażone w wymrażarkę umożliwiającą chłodzenie do 193 K (– 80 °C) lub niżej; lub

2. posiadające komorę ze źródłem molekuł wykonaną z materiałów odpornych na UF₆, wykładaną lub powlekaną takimi materiałami;

f) spektrometry masowe ze źródłem jonów do mikrofluoryzacji zaprojektowane do pracy w obecności aktynowców lub fluorków aktynowców.

a) wyjście wielofazowe umożliwiające uzyskanie mocy równej 40 W lub większej;

b) zdolność do pracy w zakresie częstotliwości pomiędzy 600 a 2 000 Hz; oraz

c) dokładność regulacji częstotliwości lepszą (mniejszą) niż 0,1 %.

1. Przemienniki częstotliwości nazywane są również konwerterami, inwerterami, generatorami, elektronicznym sprzętem testującym, zasilaczami prądu zmiennego, napędami silnikowymi elektrycznymi i zmiennej prędkości lub napędami i zmiennej częstotliwości.

2. Funkcjonalność wyszczególnioną w tej pozycji można osiągnąć przy pomocy pewnego sprzętu wprowadzonego do obrotu jako: elektroniczny sprzęt testujący, zasilacze prądu zmiennego, napędy silnikowe elektryczne i zmiennej prędkości lub napędy i zmiennej częstotliwości.

Opis

Pręty z granatu itrowo-glinowego (YAG).

Następujące wyposażenie i części optyczne, niewyszczególnione w 6A002 lub 6A004.b.:
elementy optyczne do podczerwieni i długości fal od 9 μm do 17 μm i ich części składowe, w tym części z tellurku kadmu (CdTe).

Układy korekcji czoła fali, inny niż zwierciadła wyszczególnione w 6A004.a., 6A005.e. lub 6A005.f., do stosowania z wiązkami laserowymi i średnicy przekraczającej 4 mm, oraz części specjalnie do nich zaprojektowane, w tym układy sterowania, czujniki czoła fazy i »odkształcalne zwierciadła«, także zwierciadła bimorficzne.

»Lasery« na jonach argonu, niewyszczególnione w 0B001.g.5., 6A005.a.6. lub 6A205.a., posiadające średnią moc wyjściową równą 5 W lub większą.

a) indywidualne »lasery« półprzewodnikowe i mocy większej niż 200 mW każdy, w ilościach większych niż 100;

b) baterie »laserów« półprzewodnikowych i mocy większej niż 20 W.

Uwagi:

1. »Lasery« półprzewodnikowe są powszechnie nazywane diodami »laserowymi«.

2. Pozycja nie obejmuje diod »laserowych« i
długości fali od 1,2 μm do 2,0 μm.

»Lasery« półprzewodnikowe przestrajalne i baterie przestrajalnych »laserów« półprzewodnikowych, niewyszczególnione w 0B001.h.6. lub 6A005.b., i długości fali od 9 μm do 17 μm, jak również stosy baterii »laserów« półprzewodnikowych zawierających przynajmniej jedną baterię przestrajalnych »laserów« półprzewodnikowych i tej długości fali.
Uwaga:
»Lasery« półprzewodnikowe są powszechnie nazywane diodami »laserowymi«.

a) lasery tytanowo-szafirowe;

b) lasery aleksandrytowe.

»Lasery« (inne niż szklane) z domieszką neodymową, niewyszczególnione w 6A005.c.2.b., i długościach fali wyjściowej większych niż 1,0 μm lecz nieprzekraczających 1,1 μm oraz i energii wyjściowej większej niż 10 J na impuls.

a) lampy obrazowe i półprzewodnikowe urządzenia obrazowe, mające częstotliwość powtarzania równą 1 kHz lub więcej;

b) urządzenia związane z częstotliwością powtarzania;

c) komórki Pockelsa.

Kamery telewizyjne zabezpieczone przed promieniowaniem lub soczewki do nich, inne niż wymienione w 6A203.c., skonstruowane w taki sposób (lub jako takie sklasyfikowane), aby były w stanie wytrzymać promieniowanie i całkowitym natężeniu powyżej 50 × 10³ Gy (krzem) (5 × 10⁶ rad (krzem) bez pogorszenia własności eksploatacyjnych.
Uwaga techniczna:
Termin Gy (krzem) dotyczy energii w dżulach na kilogram, pochłanianej przez nieosłoniętą próbkę silikonową wystawioną na promieniowanie jonizujące.

a) pracujące w przedziale długości fal od 300 nm do 800 nm;

b) średnia moc wyjściowa powyżej 10 W, ale nieprzekraczająca 30 W;

c) częstotliwość powtarzania powyżej 1 Hz; oraz

d) szerokość impulsu poniżej 100 ns.

Uwaga:
Pozycja nie obejmuje oscylatorów
pracujących w jednym trybie.

a) pracujące w przedziale długości fal od 9 μm do 11 μm;

b) częstotliwość powtarzania powyżej 250 Hz;

c) średnia moc wyjściowa powyżej 100 W, ale nieprzekraczająca 500 W; oraz

d) szerokość impulsu poniżej 200 ns.

Opis

a) Następujące inercyjne systemy nawigacyjne certyfikowane do stosowania w »cywilnych statkach powietrznych« przez władze cywilne państwa strony Porozumienia z Wassenaar i specjalnie zaprojektowane do nich podzespoły:

1. Następujące inercyjne układy nawigacyjnie (INS) (z zawieszeniem kardanowym lub innym) i urządzenia bezwładnościowe, przeznaczone dla »statków powietrznych«, pojazdów lądowych, jednostek pływających (nawodnych i podwodnych) lub »statków kosmicznych« do określania położenia, naprowadzania lub sterowania, posiadające którekolwiek z wymienionych niżej cech, oraz specjalnie do nich zaprojektowane podzespoły:

a) błąd nawigacji (czysto inercyjny) po prawidłowej regulacji, wynoszący 0,8 (lub mniej) mili morskiej na godzinę »krąg równego prawdopodobieństwa« (CEP) lub mniej (lepiej); lub

b) przeznaczone do określonych zadań na poziomach przyspieszeń liniowych powyżej 10 g;

2. Hybrydowe inercyjne systemy nawigacyjne wbudowane w Globalne Satelitarne Systemy Nawigacyjne (GNSS) lub współpracujące z systemami »Nawigacji opartej na danych z bazy danych« (»DBRN«) do określania położenia, naprowadzania lub sterowania, po normalnym zestrojeniu i odznaczające się dokładnością pozycyjną nawigacji INS po utracie kontaktu z GNSS lub »DBRN« przez okres do czterech minut, mniejszą (lepszą) niż 10 metrów »kręgu równego prawdopodobieństwa« (CEP);

3. Inercyjne urządzenia pomiarowe do wyznaczania azymutu, kursu lub wskazywania północy, spełniające którekolwiek z poniższych kryteriów, oraz specjalnie do nich zaprojektowane podzespoły:

a) zaprojektowane tak, żeby dokładność wyznaczania azymutu, kursu lub północy była równa lub mniejsza (lepsza) niż 6 minut kątowych (wartość średnia kwadratowa) na szerokości 45 stopni; lub

b) zaprojektowane tak, żeby miały nieroboczy poziom wstrząsów 900 g lub większy przez okres 1 milisekundy lub większy.

b) Systemy teodolitowe zawierające urządzenia inercyjne specjalnie zaprojektowane do cywilnych zastosowań badawczych i zaprojektowane tak, żeby dokładność wyznaczania azymutu, kursu lub północy była równa lub mniejsza (lepsza) niż 6 minut kątowych (wartość średnia kwadratowa) na 45 stopniu szerokości geograficznej oraz specjalnie do nich zaprojektowane podzespoły.

c) Urządzenia bezwładnościowe lub inne zawierające przyspieszeniomierze określone w pozycji 7A001 lub 7A101, zaprojektowane i opracowane jako czujniki MWD (pomiar podczas wiercenia) stosowane podczas prac wiertniczych.

Uwaga:
Parametry a.1. oraz a.2. mają zastosowanie wraz z którymkolwiek z poniższych warunków środowiskowych:

1. wejściowe drgania przypadkowe i całkowitej wielkości średniej kwadratowej 7,7 g przez pierwsze 0,5 godziny oraz ogólny czas trwania testu 1,5 godziny na każdą z 3 prostopadłych osi, gdy drgania przypadkowe spełniają wszystkie następujące warunki:

a) stała gęstość widmowa mocy (PSD) i wartości 0,04 g²/Hz w przedziale częstotliwości 15–1 000 Hz; oraz

b) gęstość widmowa mocy malejąca od 0,04 g²/Hz do 0,01 g²/Hz w przedziale częstotliwości
od 1 000 do 2 000 Hz;

2. przechylenie i odchylenie równe lub większe niż + 2,62 radian/s (150 deg/s); lub

3. zgodnie z normami krajowymi równoważnymi pkt 1 lub 2 powyżej.

Uwagi techniczne:

1. a.2. odnosi się do układów, w których bezwładnościowe układy nawigacyjne lub inne niezależne pomoce nawigacyjne są wbudowane w jedno urządzenie w celu uzyskania poprawy parametrów.

2. »Krąg równego prawdopodobieństwa« (CEP) – w kołowym rozkładzie normalnym promień okręgu
zawierającego 50 % poszczególnych wyników pomiarów lub promień okręgu, w którym występuje 50 % prawdopodobieństwo, że obiekt zostanie zlokalizowany.